步入式恒溫實(shí)驗(yàn)室
適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件,在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)的檢驗(yàn)。試驗(yàn)數(shù)據(jù)可通過(guò)U盤(pán)拷貝,電腦無(wú)需安裝任
適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件,在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)的檢驗(yàn)。試驗(yàn)數(shù)據(jù)可通過(guò)U盤(pán)拷貝,電腦無(wú)需安裝任
適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件,在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)的檢驗(yàn)。試驗(yàn)數(shù)據(jù)可通過(guò)U盤(pán)拷貝,電腦無(wú)需安裝任
本試驗(yàn)箱具有較寬的溫濕度調(diào)節(jié)控制范圍,適用于工業(yè)產(chǎn)品的性能可靠性試驗(yàn),可滿足標(biāo)準(zhǔn)GB2423.1、2、3、4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法,試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法》的要求。 本試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》,GB10586-89《溫?zé)嵩囼?yàn)箱技術(shù)條件》。